网络分析仪AFR和端口扩展(port extension)有什么区别
AFR和端口延伸有什么区别？实际测试用哪一种方式较好呢？
有些射频微波元件不是同轴的，例如 PCB上的SMT元件，或者有的元件是半导体晶圆的一部分。测量这类元件时，用户需要用到测试夹具或晶圆探针。测试时，我们通常先用标准校准件（例如 N 型或 SMA型）在电缆线末端做校准，然后将校准平面“移”到 DUT处。有两种方法：
– 端口扩展（Port Extension)
– 夹具去嵌入 （Fixture De-embedding）
端口扩展（Port Extension)
这种移动校准平面的方法简单易用。传统上，端口扩展只用电延迟（delay）来标定夹具、探头或适配器的物理长度。现在，很多VNA 在使用端口扩展时允许使用 延迟（delay)和损失(loss)补偿。损耗参数可以手动输入，也可以使用自动端口扩展（Auto Port Extension）功能从测量中导出。
自动端口扩展（Auto Port Extension）提供了一种方便、快速和简单的方法来确定端口扩展所需的延迟（DELAY）和损耗（LOSS）参数。用户可以测量夹具开路（例如，未插入或焊接 DUT ），或短路，或两者兼而有之。
夹具去嵌入 （Fixture De-embedding）
这是移动校准平面的方法更准确，因为它消除了测试系统与夹具或探针之间以及夹具或探针与 DUT 之间的损耗、延迟和失配效应。为了使该过程有效，用户需要计算或测量夹具或探头的 S 参数。 S 参数可以使用是德科技先进设计系统 (ADS) 等电路仿真工具进行建模，也可以从物理测量中获取。而AFR便是客户喜欢的一种简单易用的方法。
Keysight P9370/80B系列模块化网分具有自动夹具移除 (AFR) 的功能，它可以很容易的测量并获得夹具的S-参数。 AFR 类似于自动端口扩展，可以使用开路或短路来获得 S-参数。当然，它也可以使用直通来代替反射标准，AFR 使用先进的时域技术来获得全套 S-参数。
总结：
1：AFR配合“去嵌入”得到夹具的S参数，Auto Port Extension配合“端口扩展”得到射频转接头的损耗。
2：去嵌入方法更准确，因为它可以消除损耗、延迟和失配效应；端口扩展更容易使用，但它只消除损耗和延迟效应。
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