MCU自动化验证解决方案
背景概述
随着半导体产业演进，MCU 在汽车、工业、物联网等领域应用广泛。其功能日趋复杂，集成了模拟类（ADC/DAC 等）、数字通信类（SPI/I2C 等）、控制类（定时器等）及电源管理类（LDO 等）丰富外设，需经 IP 到系统级多阶段验证，覆盖功能、性能、可靠性测试，以满足不同场景下的严苛需求。
挑战：
- [异构性]仪器软件API不统一，跨设备代码复用难，需重复开发适配工具
- [零散性]数据存于Excel本地文件，难追溯关联，报告生成需人工录入
- [同步性]多外设时序难对齐，并行数据处理耗时且测试同步精度不足
- [低效性]手动测试占比高，固件回归需数周，测试覆盖量低
解决方案
方案架构
测试IP
MCU自动化验证解决方案Demo
方案优势
- 自动高效：TestStand 自动化流程，固件回归周期从周缩至天，测试量从90增至200+，支持并行测试。
- 精准同步：PXI原生同步技术（如 NI-TClk），确保多外设、通道时序精准，支持并行与瞬态测试。
- 数据贯通：统一管理测试数据，自动生成 XML/HTML数据库报告，支持从实验室到生产的数据流追溯。
- 温测联动：PXI与TestStand 联动温箱控制，支持测试数据关联回溯，提升MCU测试效率与可靠性。
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